IL 和 RL 测试

单模插入损耗/回波损耗测试仪和完全符合 EF 标准的多模插入损耗测试模块可在 VIAVI 高级 MAP 系列平台上使用。

PCT-rm 是一种基于 MAP-220 的插入损耗 (IL) 和回波损耗 (RL) 解决方案，主要针对实验室和制造中单个光纤连接器的应用。