ONT CFP8 モジュール (Discontinued)

速度と精度に対するニーズの高まりを見越して、400G CFP8 モジュールが VIAVI ONT-400 ファミリーに新たに追加されました。このモジュールはスケーラブルなテストソリューションであり、IC設計からシステム検証まで、開発サイクルのそれぞれの過程に完全に対応しています。400G/200G イーサネット（IEEE 802.3 bs）の最新規格に基づいており、第 1 世代の 400G プラガブル光モジュールを収容する CFP8 スロットを装備しています。電気アダプターは、16 * 25G NRZ または 8 * 50G PAM-4 を介して 400G 評価ボードと直接相互接続するために利用できます。

このモジュールのテストアプリケーションは、「リアルワールド」テスト信号発生が可能です。その為実機と同じ状態で MAC/IP レイヤーを完全に把握しながら、徹底的なトラブルシューティングを行うことができます。さらに、拡張エラー解析とダイナミックスキューテストにより、物理レイヤーにおける問題を迅速に特定し、解析することができます。

速度と信頼性に対する要求が高まる中、400G モジュールは、今後の OTUCn テストの準備を整えるのに役立ちます。業界標準の QSFP28 ポートを介して FlexE および FlexO アプリケーションをサポートします。さらに、その FPGA ベースの設計は進化する規格に準拠していくため、VIAVI 400G CFP8 モジュールは将来への賢明な投資となります。

特長

• 400GE および 200GE シグナルインテグリティテスト
• CFP8 トランスポンダーテスト（16x25G NRZ）
• QSFP-DD および OSFP トランスポンダーテスト（8x50G PAM-4）
• PAM-4 および NRZ アダプターを介した評価ボードへのアクセス
• 物理レイヤー、PCS/FEC、イーサネット、OTN に対応

利点

• 物理レイヤーから 400GE/OTUCn までのトラブルシューティングのための包括的なアプリケーション
• FlexE/FlexO の詳細なテストに備えた将来性のある設計

アプリケーション

• 400G/200G テストとトラブルシューティング
• トランスポンダーテスト
• IC 検証
• システム統合 

主な特徴

• 400GE および 200GE の全帯域幅テスト
• オプションの電気インターフェイスを備えた CFP8 スロット
• PCS/FEC レイヤーのテスト
• 動的スキュー挿入（NRZ）
• MDIO コントロールインターフェイスへのアクセス