パッシブなDWDMデバイス、ROADMと回路パックの製造と新しいデバイス開発のためのテストソリューションを提供します。波長依存性能の完全特性評価を提供します。
光コンポーネントの長期自動化信頼性試験とチャンバーを使用しての温度/湿度環境ストレス・テストの統合
VIAVI の高度な MAP シリーズ プラットフォームで使用するためのシングルモード挿入損失/反射損失テストメーターおよび EF に完全準拠のマルチモード挿入損失テストモジュール
PCT-rm は、ラボと製造でのシングルファイバーコネクターアプリケーションを対象とする MAP-220 ベースの挿入損失(IL)および反射損失(RL)に対するソリューションです。
VIAVIは、サポート、サービス、総合的なトレーニング、お客様が必要とするリソースを提供しています。これはすべて、お客様のVIAVIへの投資価値を最大化するために当社が日頃より行っていることです。
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