IL および RL 試験

光学製品製造用の挿入損失（IL）および反射損失（RL）のテストソリューション。

MAP System (Multiple Application Platform)

パッシブコンポーネントテスト（PCT）システムは、1000 チャンネルもの IL、RL、長さを測定することができ、製造環境向けのスマート制御機能や、新しい開発アプローチのための高度なアドオン機能を備えています。

製品

MAP PCT 挿入損失（IL）および反射損失（RL）テストモジュール（mORL)

VIAVI の高度な MAP シリーズプラットフォームで使用するためのシングルモード挿入損失/反射損失テストメーターおよび EF に完全準拠のマルチモード挿入損失テストモジュール
シングルファイバー挿入損失&反射損失システム（mOLM）

PCT-rm は、ラボと製造でのシングルファイバーコネクターアプリケーションを対象とする MAP-220 ベースの挿入損失（IL）および反射損失（RL）に対するソリューションです。

あらゆるステップでのサポート

VIAVIは、サポート、サービス、総合的なトレーニング、お客様が必要とするリソースを提供しています。これはすべて、お客様のVIAVIへの投資価値を最大化するために当社が日頃より行っていることです。

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