无源 DWDM 设备、ROADMs & Circuit Packs 的制造和新设备开发的测试解决方案。 详细描述与波长相关的性能
集成的自动化测试设备,用于测试光学元件在温度/湿度试验箱内、受到环境压力条件下的长期可靠性。
单模插入损耗/回波损耗测试仪和完全符合 EF 标准的多模插入损耗测试模块可在 VIAVI 高级 MAP 系列平台上使用。
PCT-rm 是一种基于 MAP-220 的插入损耗 (IL) 和回波损耗 (RL) 解决方案,主要针对实验室和制造中单个光纤连接器的应用。
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