IL 和 RL 测试

用于光学制造的插入损耗 (IL) 和回波损耗 (RL) 测试解决方案。

MAP System (Multiple Application Platform)

无源元件测试 (PCT) 系统可在多达 1000 个通道上测量 IL、RL 和长度，具有针对生产环境的智能控制功能，以及针对新型开发方法的高级附加功能。

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