LightTest 系统
这些特定于应用的系统利用 MAP 系统为常见测试应用提供交钥匙光学测试解决方案。
LightTest 系列是特定于应用的集成测试解决方案，它利用了 MAP 系列超级应用程序或基于 PC 的软件的功能。LightDirect 解决方案由专门的 MAP 模块或 LightDirect 模块组装而成，通常用于台架测试应用，但也可以组合在更大的、多模块客户驱动自动化测试系统中。
产品
-
MAP 扫频波长测试系统
无源 DWDM 设备、ROADMs & Circuit Packs 的制造和新设备开发的测试解决方案。 详细描述与波长相关的性能
-
环境测试系统 (OCETS Plus)
集成的自动化测试设备，用于测试光学元件在温度/湿度试验箱内、受到环境压力条件下的长期可靠性。
-
MAP PCT 插入损耗 (IL) 和回波损耗 (RL) 测试模块 (mORL)
单模插入损耗/回波损耗测试仪和完全符合 EF 标准的多模插入损耗测试模块可在 VIAVI 高级 MAP 系列平台上使用。
-
单光纤插入损耗和回波损耗系统 (mOLM)
PCT-rm 是一种基于 MAP-220 的插入损耗 (IL) 和回波损耗 (RL) 解决方案，主要针对实验室和制造中单个光纤连接器的应用。
每一阶段的支持
我们提供您所需的支持、服务、全面培训以及资源。这只是我们为最大程度提升您投资的价值所作努力的一部分。
咨询专家
请与我们联系以了解详细信息或获取报价。不管您有任何疑问，都可以咨询我们的专家来获得正确解答。